Большинство современных тестеров (мультиметров) имеют встроенные функции тестирования диодов и иногда транзисторов. Но если ваш тестер не имеет этих функций, то вы можете собрать тестер диодов и транзисторов своими руками. Ниже представлен проект тестера на микроконтроллере PIC16F688.

Логика тестирования диодов очень проста. Диод — это PN-переход, который как известно, проводит ток только в одном направлении. Следовательно, рабочий диод будет проводить ток в одном направлении. Если диод проводит ток в обеих направлениях, то значит диод нерабочий — пробитый. Если диод ни в одном из направлений не проводит, то диод также не рабочий. Схемная реализация данной логики показана ниже.

Данную логику легко можно адаптировать для теста биполярных транзисторов, который содержит два PN-перехода: один между базой и эмиттером (БЭ-переход) и второй между базой и коллектором (БК-переход). Если оба перехода проводят ток только в одном направлении, транзистор — рабочий, иначе — не рабочий. Также мы можем идентифицировать тип транзистора PNP или NPN, определив направление проводимости тока. Для тестирования транзисторов, в микроконтроллере используется 3 входа/выхода

Последовательность для тестирования транзистора:
1. Включить выход (установить в единицу) D2 и считать D1 и D3. Если на D1 логическая единица, переход БЭ проводит ток, иначе — нет. Если D3 в 1, то БК проводит ток, иначе — нет.
2. Установить выход D1 в 1 и считать D2. Если D2 в 1, значит ЭБ проводят ток, иначе — нет.
3. Установить выход D3 в 1 и считать D2. Если D2 в 1, значит КБ проводят ток, иначе — нет.

Далее, если БЭ и БК проводят ток, то транзистор NPN-типа и рабочий. Если же, ЭБ и КБ проводят ток, то транзистор PNP типа и также рабочий. Во всех остальных случаях (к примеру ЭБ и БЭ проводят ток или оба перехода БК и КБ не проводят и т.п.) транзистор находится в не рабочем состоянии.

Принципиальаня схема тестера диодов и транзисторов и описание

Схема тестера очень проста. В приборе предусмотрено 2 кнопки управления: Select (выбор) и Detail (подробнее). По нажатию кнопки Select происходит выбор типа теста: тест диода или транзистора. Кнопка Detail работает только при режиме теста транзистора, на экране LCD показывается типа транзистора (NPN или PNP) и статусы проводимости переходов транзистора.
Три ножки тестируемого транзистора (эмиттер, коллектор и база) подсоединяются к «земле» через резистор 1 кОм. Для тестирования используются выводы RA0, RA1, и RA2 микроконтроллера PIC16F688. Для тестирования диода используется только два вывода: Э и К (на схеме обозначены D1 и D2).

Программа

Программное обеспечения для данного проекта написано с использованием компилятора MikroC. Во время тестирования и программирования будьте внимательны и следите за установками входов/выходов МК (RA0, RA1 и RA2) т.к. они часто меняются во время работы. Перед тем, как установить какой-либо выход в 1, убедитесь, что два других входа/выхода МК определены как входа. В противном случае возможны конфликты входов/выходов МК.

 /* Project: Diode and Transistor Tester Internal Oscillator @ 4MHz, MCLR Enabled, PWRT Enabled, WDT OFF Copyright @ Rajendra Bhatt November 9, 2010 */ // LCD module connections sbit LCD_RS at RC4_bit; sbit LCD_EN at RC5_bit; sbit LCD_D4 at RC0_bit; sbit LCD_D5 at RC1_bit; sbit LCD_D6 at RC2_bit; sbit LCD_D7 at RC3_bit; sbit LCD_RS_Direction at TRISC4_bit; sbit LCD_EN_Direction at TRISC5_bit; sbit LCD_D4_Direction at TRISC0_bit; sbit LCD_D5_Direction at TRISC1_bit; sbit LCD_D6_Direction at TRISC2_bit; sbit LCD_D7_Direction at TRISC3_bit; // End LCD module connections sbit TestPin1 at RA0_bit; sbit TestPin2 at RA1_bit; sbit TestPin3 at RA2_bit; sbit Detail at RA4_bit; sbit SelectButton at RA5_bit; // Define Messages char message1[] = "Diode Tester"; char message2[] = "BJT Tester"; char message3[] = "Result:"; char message4[] = "Short"; char message5[] = "Open "; char message6[] = "Good "; char message7[] = "BJT is"; char *type = "xxx"; char *BE_Info = "xxxxx"; char *BC_Info = "xxxxx"; unsigned int select, test1, test2, update_select, detail_select; unsigned int BE_Junc, BC_Junc, EB_Junc, CB_Junc; void debounce_delay(void){  Delay_ms(200); } void main() { ANSEL = 0b00000000; //All I/O pins are configured as digital CMCON0 = 0?07 ; // Disbale comparators PORTC = 0; PORTA = 0; TRISC = 0b00000000; // PORTC All Outputs TRISA = 0b00111000; // PORTA All Outputs, Except RA3 (I/P only) Lcd_Init();                      // Initialize LCD Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);             // CLEAR display Lcd_Cmd(_LCD_CURSOR_OFF);        // Cursor off Lcd_Out(1,2,message1);           // Write message1 in 1st row select = 0; test1 = 0; test2 = 0; update_select = 1; detail_select = 0; do {  if(!SelectButton){   debounce_delay();   update_select = 1;   switch (select) {    case 0 : select=1;    break;    case 1 : select=0;    break;   } //case end  }   if(select == 0){   // Diode Tester   if(update_select){    Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);    Lcd_Out(1,2,message1);    Lcd_Out(2,2,message3);    update_select=0;   }   TRISA = 0b00110100; // RA0 O/P, RA2 I/P   TestPin1 = 1;   test1 = TestPin3 ; // Read I/P at RA2   TestPin1 = 0;   TRISA = 0b00110001; // RA0 I/P, RA2 O/P   TestPin3 = 1;   test2 = TestPin1;   TestPin3 = 0;    if((test1==1) && (test2 ==1)){    Lcd_Out(2,10,message4);   }   if((test1==1) && (test2 ==0)){    Lcd_Out(2,10,message6);   }   if((test1==0) && (test2 ==1)){    Lcd_Out(2,10,message6);   }   if((test1==0) && (test2 ==0)){    Lcd_Out(2,10,message5);   }   }  // End if(select == 0)   if(select && !detail_select){     // Transistor Tester   if(update_select){    Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);    Lcd_Out(1,2,message2);    update_select = 0;   }   // Test for BE and BC Junctions of NPN   TRISA = 0b00110101; // RA0, RA2 I/P, RA1 O/P   TestPin2 = 1;   BE_Junc = TestPin1 ; // Read I/P at RA0   BC_Junc = TestPin3;   // Read I/P at RA2   TestPin2 = 0;    // Test for EB and CB Junctions of PNP   TRISA = 0b00110110; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P   TestPin1 = 1;   EB_Junc = TestPin2;   TestPin1 = 0;   TRISA = 0b00110011; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P   TestPin3 = 1;   CB_Junc = TestPin2;   TestPin3 = 0;    if(BE_Junc && BC_Junc && !EB_Junc && !CB_Junc){    Lcd_Out(2,2,message3);    Lcd_Out(2,10,message6);    type = "NPN";    BE_info = "Good ";    BC_info = "Good ";   }   else    if(!BE_Junc && !BC_Junc && EB_Junc && CB_Junc){    Lcd_Out(2,2,message3);    Lcd_Out(2,10,message6);    type = "PNP";    BE_info = "Good ";    BC_info = "Good ";   }   else {    Lcd_Out(2,2,message3);    Lcd_Out(2,10,"Bad ");    type = "Bad";   }  }  if(select && !Detail){   debounce_delay();   switch (detail_select) {    case 0 : detail_select=1;    break;    case 1 : detail_select=0;     break;    } //case end   update_select = 1;  }   if(detail_select && update_select){    // Test for BE Junction open   if(!BE_Junc && !EB_Junc){    BE_info = "Open ";   }   // Test for BC Junction open   if(!BC_Junc && !CB_Junc){    BC_info = "Open ";   }   // Test for BE Junction short   if(BE_Junc && EB_Junc){    BE_info = "Short";   }    // Test for BC Junction short   if(BC_Junc && CB_Junc){    BC_info = "Short";   }   Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);   Lcd_Out(1,1,"Type:");   Lcd_Out(1,7,type);   Lcd_Out(2,1,"BE:");   Lcd_Out(2,4,BE_info);   Lcd_Out(2,9,"BC:");   Lcd_Out(2,12,BC_info);   update_select = 0;  }       // End if (detail_select)  } while(1); }